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■ マニュアル
■ カタログ
■ 評価版ソフトウェア
■ テクニカルアップデート
■ アプリケーションノート
■ 研究・発表論文
■ セミナー資料
■ GPIBサンプルプログラム
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セミナー資料
過去弊社で開催致しました、特別講師を招いてのセミナーにおける資料をご提供しております。
ご希望の方は、メールにてセミナー名を明記の上、ご請求ください。
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◆ソリューションはここからはじまる◆
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@ Jitter Fundamentals
ウェーブクレスト社のシグナルインテグリティソリューションを中心に、ジッタ想定の基礎、オシロスコープとタイムインターバル機能の違い、Dj・Rjなどのジッタ成分の分離方法、ジッタの原因となる周期的成分の抽出などを説明。
A PLL アドバンスツール(講師:Dr.Mike Li)
「PLLアドバンスツール」、「TailFitアルゴリズム」の創案者が、その基本技術を詳しく解説し、このテクノロジを適用した設計事例をシリコンの測定結果と共に紹介。また、従来、アナログシミュレーション上でしか求める事が出来なかったPLLの減衰係数や、搬送波周波数を実際に測定し、 PLL設計する上で必要な各種のパラメータと共に、デバッグの手法を説明。
B PLL アドバンスツール&PCI Express コンプライアンスデモ(講師:Mr.Craig Emmerich)
SATA、Fibre Channelコミッティのメンバーである、Mr.Craig Emmerichが、高速インターフェイスのコンプライアンスと、テストホールについて説明。
C PCI Express コンプライアンス(講師:Dr.Mike Li)
PCI Expressテクニカルコミッティ・チェアマンが語る、インターオペラビリティラボの実情と、プラグフェスタへ向けた傾向と対策。
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◆Clock・Datacomアプリケーションの為のジッタヒストグラム特性◆
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@ Jitter Fundamentals
ウェーブクレスト社のシグナルインテグリティソリューションを中心に、ジッタ想定の基礎、オシロスコープとタイムインターバル機能の違い、Dj・Rjなどのジッタ成分の分離方法、ジッタの原因となる周期的成分の抽出などを説明。
A Clock,DataComアプリケーションの為のジッタヒストグラム特性
(講師:Dr,John Patrin)
PCI Express等の高速シリアル伝送コンプライアンスインターオペラビリティを確保するために、Tj10-12(BER)測定が要求される理由や、様々ある測定器、オシロスコープ/BERT/TIAなどでのジッタ解析手法(Dj,Rj,Tj,Pk−Pk)の中で、真に重要なのは何かを解き明かす。
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◆10E-12インターオペラビリティへの挑戦◆
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@ Signal Integrity Basics
- Amplitude Noise and Timing Noise (jitter) & definition of components
- Why Peak-to-Peak is a poor metric
- Why separate jitter components?
- Jitter math review
- Probability Densith Functions (PDFs),Convolution, and Cumulative Density Functions (CDFs)
A Jitter Analysis and Test in Serial Datacom
- Different types of Jitter measurements
- How Phase Jitter, Period Jitter and Cycle-to-Cycle Jitter relate
- Jitter transfer functions
- How recovered clocks affect jitter “seen” by the receiver
B PCI Express Signaling Specification 1.1 and Testing Method
- Understanding the recently released “Jitter White Paper” 1.1 specification and how to test PCI Express signaling conditions and jitter
- Link transmitter, receiver, reference clock, medium jitter test
C SATA II Signal Specification 1.0 and Testing Method
- Overview of the latest SATA II signal spec
- Spread-spectrum clock (SSC) test
D Advanced PLL Analysis and Test
- PLL transfer functions
- Input and output jitter relationship
- Transfer function and jitter analysis and test
E Measurement Equipment
- Sampling scopes, Real-time scopes, BERTs, TIAs
- Why analog bandwidth is a poor metric
- Jitter generation, transfer and tolerance setups
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