handler-attached dib-loading system

普遍的な使用 – 既存のソリューションとの互換性

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主な特徴

  • 1分以内に、1人だけで素早く簡単に基板を交換(1人作業)
  • 高効率+時間節約
  • 高い再現性
    • 基板交換プロセスにおけるテストヘッドとハンドラーの機械的接続
    • 静的に定義されたテストヘッドの位置決め
  • 操作ミスを防ぐセンサー監視機能
  • 短期間での投資回収
  • 最終テストプロセス専用
  • 高いロック力
  • ドッキング/アンドッキングのシングルシーケンス操作
  • タッチパネル操作
  • プログラム可能なユーザーインターフェース
  • パスワードで保護された制御オプション
  • 接触力はロッキングシステムで完全に補正
  • 耐久性と堅牢性に優れた設計
  • 多様なテストヘッドソリューションとの互換性
  • 高並列試験セットアップ用に設計
  • 恒久的で機械的なテスターとハンドラーの接続により、歩留まりが3%向上。
  • 人間工学に基づいた迅速かつ容易な基板アクセス
  • 25年以上の経験による成果

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