cold test cover EVOLUTION

コスト削減、ダウンタイムの最小化

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主な特徴

  • (R)進化した最先端のドッキングとハンドラー・チャンバー密閉ソリューション
  • 直感に基づく、技術的に進んだ斬新なデザイン
  • 普遍的なテスター/ハンドラー互換性
  • サードパーティ製ドッキングとの互換性は、ご要望に応じて検証いたします。
  • CUH/ハンドラーチャンバーのアイシング防止
  • 動作温度範囲：-50 °C ～ +150 °C (-58 °F ～ +302 °F)
  • パージエアをハンドラーチャンバーに戻す逆流防止システム + 二重シールプレート
  • ハンドラーに固定されたコールドテストカバーアセンブリ
  • ドッキングおよびアライメント機能をコールドテストカバーアセンブリに統合
  • 密閉カバーを閉じた状態で、最大30分間のテストセル点検が可能
  • 自動または機械式の押しボタン式システム操作オプション
  • コスト／時間の節約＋歩留まり／品質向上のための操作機能
  • 耐久性に優れた堅牢設計
  • 単一モジュールまたは一体型ディブ交換ソリューション
  • オプションの製品機能とアップグレード統合
    – センサー制御温度検出 + 低温ガード/アラームシステム
    – 一体型ディブ交換ソリューション：

    • 1分以内のディブ交換時間
    • サイドマッピング
    • タッチパネル操作
    • プログラム可能なユーザーインターフェース
    • パスワードで保護された個別制御オプション
  • esmo semicon lupo cartにより、コールドテストカバーEVOLUTIONのハンドラーへの取り付けが1時間以内

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特殊装置

  • test socketsお客様の仕様に合わせたデザイン 迅速で簡単なソケット交換 高性能スプリングプローブ 16 GHzまでの高周波用
  • composite technology独特の軽さ 設計＋製造における顧客との協力 画期的なインターフェイス・ソリューション 一般的に最大80%の軽量化
  • cold test cover画期的なインターフェイス・ソリューション ハンドラーに固定 接点の凍結防止 直感に基づく斬新な設計 単一モジュールまたは統合型ディブチェンジャー・ソリューション

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