新しい部分放電試験システムTTSは、VDE 0884、IEC 60747-5-5、UL1 577に準拠したルーチン試験における半導体（オプトカプラ、デジタルアイソレータ）の高電圧（HI-Pot）および部分放電試験用に特別に開発されました。部分放電試験システムは、ピーク電圧18.3 kVまでの試験電圧に対応しています（ご要望に応じて、より高い電圧にも対応します）。

部分放電、試験電圧（UrmsとUpeak）、試験体電流、試験体容量は高精度で測定されます。

部分放電試験システムは、試験電圧、電流、部分放電を表示する19 ” ハウジングに組み込まれた制御・測定ユニットで構成されています。高電圧発生部は高電圧モジュール内にあります。このモジュールは、様々なハンドラーまたは手動測定ステーションに取り付けることができます。MPSは、お客様独自のシステムに統合することで、測定および試験システムのサポートを提供します。
部分放電試験システムは、開発用だけでなく、ハンドラーを使用した生産での100％試験用としても利用可能です。手動組立用の手動測定ステーションは、開発またはプロトタイプのテストに利用できます。最大4台のハンドラーを制御コンピュータに接続できます。

この試験システムは、社内の制御・記録ソフトウェアMSPS 20と接続することで、最大限の柔軟性を実現します。

制御ソフトウェアMSPS 20は非常に柔軟で、セルフテスト、レポート機能、STDFファイルの書き込みが可能です。
新機能：最大18.3kVPeak / 13kVrmsのテスト電圧に対応。

技術データ

• 1,2または4チャンネル
• RS232およびUSBインターフェース（IEEE488およびイーサネットについてはお問い合わせください。）
• 7,10または13kVrmsの高電圧モジュールが利用可能
• IEC60060に準拠した高電圧測定
• 精度 +/- 1%, 測定レンジの+/-0.5
• IEC60270に準拠した部分放電測定
• 測定レンジ2,5, 5, 10, 25, …, 25000pC、オートレンジあり
• 狭帯域フィルタ 0.10～2.5 MHz
• ワイドバンドフィルター 40/250 kHz、40/400 kHz、80-250 kHz、80/400 kHz
• 部分放電測定の精度+/- 測定範囲の±3％、±2％、測定範囲の25％～100％では通常5％未満
• 5pcおよび10pC高電圧パルス校正器内蔵

PD Tester TTS 4 channel test system with handler
PD Tester TTS manual test solution