test-head-attached dib-changing system

ボード交換が1分以内に完了

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主な特徴

基板交換が1分以内に完了
高効率で時間節約
基板交換プロセスにおけるテストヘッドとハンドラーの機械的接続による最高の再現性
短期間での投資回収
最終テスト専用
テストヘッドの静的位置決めによる最高の再現性
高いロック力
ドッキング/ドッキング解除のシングルシーケンス操作
調整可能なドッキング力
強制停止機能
調整可能なZスタック
タッチパネル操作
プログラム可能なユーザー・インターフェース
パスワードで保護された制御オプション
コールドテスト対応
ロックシステムによる接触力の完全補正
デフォルトタイプの基板方向
耐久性と堅牢性に優れた設計
ハンドテストから生産モードへの変更が容易
多様なテストヘッドソリューションとの互換性
esmo semicon lupo cartによる容易な設置

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