WAVECREST | アプリケーション

デバイスとシステムは、タイミングマージンにおいてきつく制約される、1Ghz操作周波数を超えつつあります。同期における全ての重要な要素を保つため、システム設計者はタイミングリファレンスの品質を提供するための高精度なPLL回路をとても信頼しています。

PLLデバイスへの信頼性が増すほどに、我々はデバッグ、評価、同位相システムテストのより良い方法を学ばなければなりません。　Wavecrest SIAシリーズは、PLLデバイスのデバッグや評価、テストに比類なく適しています。　SIA シリーズは、高信頼性の測定と、たくさんの情報量をもったより高度な解析アルゴリズムを併せ持ち、今日の市場で最も包括的なPLL解析ソリューションを供給しています。

SIAシリーズは、DJ,RJ,PJ 隣接したサイクルジッタ，デューティーサイクル，スルーレート，電圧特性とPLLループレスポンスを含むPLLデバイスの全ての重要な特性の測定ができます。

ヒストグラムがノンガウシアンのとき、1シグマの値はRandom Jitter (RJ) を正確に表現していません。弊社が特許を取得している"TailFitアルゴリズム"によって、ヒストグラムからDJ, RJ 要素を分離します。(Figure1)	Figure1
信号の長期信頼性を見て、ある決まった時間の後、または特定のBERにおいて、Total Jitter(TJ)を計算します。 (Figure2)	Figure2
一度DJ成分が決定されると、Periodic Jitter(PJ)を定量化するModulation解析ツールを使用します。FFT画面は、ジッタのスペクトル量を示します。この画面は、ジッタの周波数成分を迅速に示し、ジッタの原因箇所を簡単に特定します。(Figure3)	Figure3