EZ : EZコンタクトは、ラボでの初期特性評価から大量生産テスト環境まで対応できるよう設計・検証された高性能テスト用コンタクトソリューションです。EZコンタクトテクノロジーは、単一の多機能エラストマーを使用した独自のショートリジッドコンタクトソリューションです。

特徴とメリット

単一の多機能エラストマー：

簡単な取り付け、在庫とコストの削減、一貫した/制御された接触運動、一貫したCR、より長いMTBA

短い電気長：

優れた信号性能

ショートワイピングストローク（SWS）テクノロジー：

ショート・パッド、面取りコーナー・パッド、ウェッタブル・フランクス、ステップ・カット・スタイルに最適。

アドバンス・コンタクト・フィニッシュ（ACF）テクノロジー：

ロードボードに優しく、破片を最小限に抑え、クリーニングを長持ちさせます。

サーマル・コンディショニング・チャンネル（TCC）テクノロジー：

テストプロセス中、デバイスの温度設定点を維持

関連記事

トップページに戻る

RF & PRECISION ANALOG

  • THOR接触技術のTHORファミリー ストレート・スルー・コンタクト技術によるカンチレバー・スタイル（ICパッケージとロードボードの端が垂直に配置されている） 複数の電気的長さが利用可能 フルケルビンおよび非ケルビン構成で利用可能
  • HERCULESHERCULESの接触技術ファミリー X方向オフセット・コンタクト技術によるカンチレバー・スタイル（ICパッケージとロード・ボードの端が垂直に整列していない） フルケルビン、専用/選択ケルビン、および非ケルビン構成で利用可能 オプションのTCCにより、試験中、DUTのセットポイントから±2⁰℃を維持可能
  • OSTRICON OSTRICON OSTRICONファミリー・コンタクティング・テクノロジー X方向オフセットコンタクト技術によるカンチレバースタイル（ICパッケージとロードボードの端が垂直に整列していません） オプションのTCCにより、テスト中にDUTのセットポイントから±2℃を維持可能
  • ZIGMAジーマの接触技術ファミリー 0.50、1.00、2.00mmの電気的長さをご用意 水平オフセット付きデュアル・エラストマー・バイアス・リジッド・スタイル（ICパッケージおよびロードボード端部）
  • ETA.5Eta.5 接触技術ファミリー 電気長0.50mmで入手可能 水平オフセット付きシングルエラストマーバイアス剛性スタイル（ICパッケージおよびロードボード端部）

半導体テスト製品

ウェーブクレスト株式会社が運営する半導体テスト製品特設サイトです

Spike Detector

ログインするとTest InspireのSpike Detectorのデモを こちらから ご覧頂けます

ページ上部へ戻る