カテゴリー:エラストマーテストソケット
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ラバーテストソケット
用途:FT/SLT/エージング/メモリ試験など ピッチ範囲:350μm~800μm 寿命:100,000T/D以上 接触抵抗:100mΩ以下 接触力:10~40g/p 最大過負荷:250μm以上 超短接触距離、接続経路のインダクタンスを大幅に低減 <0.2nH 様々な高周波アプリケーションに最適、ミリ波やレーダー関連に対応可能 交換が容易
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