VIPER 次世代テスト&計測ソリューション&Spike Detector

モノのインターネットの波に注目したVIPERの次世代テスト&計測ソリューション&Spike Detector

Test Inspireは、高密度PPMU、DPS、AWG、デジタイザの設計を専門としています。Test Inspire社は、利用可能なT&M技術とソリューション全体を深く理解しています。お客様のソリューションのプロトタイピングと工業化を引き受けます。
VIPERの多彩で階層的なコアテクノロジーは、新しい計測器設計の開発・検証時間を短縮します。
キャラクタリゼーション・ラボでは、強力で高度に統合されたスケーラブルなVIPERが、複雑なPMIcやSOICの高密度測定ニーズに対応し、高い生産性、省フットプリント、低所有コストを実現します。
大量生産では、モノのインターネットIoTの波に触発されたTest Inspire VIPERベースのソリューションは、最適なスループットを達成するために、あらゆるテスト機器からリモートで同期させ、トリガーすることができます。
テスト・エンジニアは、Test Inspireテクノロジーを使用することで、テスト・セル構成の制約を超えた最も効果的なテスト・ソリューションを設計することができ、最小のテスト・コスト(CoT)で1時間あたりのテスト・ユニット(UPH)を向上させることができます。

VIPER Test Inspireのコアテクノロジーは、AdvancedTCA®のAXIe、PXIe(Peripheral Component Interconnect Express)、LXI(LAN eXtensions for Instrumentation)などの確立されたテスト&計測(T&M)オープン規格を活用しています。
VIPERは、特性評価テストベンチや量産テストセル向けの革新的なテストソリューションとシステム統合を可能にします。
VIPERテクノロジーは、柔軟性とカスタマイズ性、そして標準化への対応です。
SWツール、キャリブレーション、診断はVIPERに組み込まれており、どのテストサブシステムからも完全に独立しています。
VIPERポータブル・ソリューションは、異なるテスト・セットアップ間で共有でき、リリース済みのアプリケーションとの後方互換性もあります。

デザインの枠組み

VIPER

  • 6VIPERごとのテストオプション
  • 1スロットケースから14スロットケースまで
  • 総電力400W
  • マスター/スレーブ設定可能
  • 同期とトリガー
  • LAN、PCIe、USB接続
  • ATE SWドライバーが利用可能
  • 標準およびカスタムのシグナルデリバリー技術

カスタマイズサービス

パワフルでスケーラブルなVIPERアーキテクチャにより、お客様の要件に基づいたカスタムT&Mモジュールを設計することができます。

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VIPER

  • VIPER LYNX Spike Detector 自動グリッチ/トランジェント検出32チャンネル波形キャプチャ/デジタイザ AGND独立の差動入力 最大100Mspsのプログラム可能なサンプル・レート 最大14ビットの分解能 チャネルごとに独立したレンジ 最大+7.5Vおよび75Vの2入力レンジ 1GByteキャプチャー共有メモリー デジタル・トリガー(各チャンネル ハードウェア同期/トリガー(LYNX毎) 最大192チャンネル/VIPER
  • VIPER 既存テスターのテスト機能拡張VIPERはあらゆるATEに対応するユニバーサルな装置拡張機能です。

半導体テスト製品

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