カテゴリー：テストシステム

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  • 部分放電試験機

  部分放電試験セット TTS

  新しい部分放電試験システムTTSは、VDE 0884、IEC 60747-5-5、UL1 577に準拠したルーチン試験における半導体（オプトカプラ、デジタルアイソレータ）の高電圧（HI-Pot）および部分放電試験用に特別に開発されました。
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  • 部分放電試験機

  部分放電試験システム TPP

  TPP型部分放電試験システムは、電気部品の非破壊絶縁・品質試験（VDE 0110-1、EN 50178、IEC 60270、IEC 60060など）に使用されます。
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  • 部分放電試験機

  VDE 0434、IEC 60270、EN 50178、VDE 0884、IEC60747-5-5、UL 1577 などに準拠した中・高電圧コンポーネントの部分放電の実験室またはオンサイト測定用

  MPS部分放電試験セットとPD-メーターはIEC60270とIEC60060に準拠しています。
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  • パワーデバイステスト

  高電圧・部分放電試験システム

  MPS Mess-& Prüfsysteme GmbHは、高電圧および部分放電測定用の測定装置および試験システムの開発における20年以上の経験を振り返ります。
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  • VIPER

  VIPER LYNX Spike Detector 自動グリッチ／トランジェント検出

  32チャンネル波形キャプチャ／デジタイザ AGND独立の差動入力 最大100Mspsのプログラム可能なサンプル・レート 最大14ビットの分解能 チャネルごとに独立したレンジ 最大+7.5Vおよび75Vの2入力レンジ 1GByteキャプチャー共有メモリー デジタル・トリガー（各チャンネル ハードウェア同期/トリガー（LYNX毎) 最大192チャンネル/VIPER
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  • VIPER

  VIPER 既存テスターのテスト機能拡張

  VIPERはあらゆるATEに対応するユニバーサルな装置拡張機能です。
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  • VIPER

  VIPER 次世代テスト＆計測ソリューション&Spike Detector

  Test Inspireは、高密度PPMU、DPS、AWG、デジタイザの設計を専門としています。当社は、利用可能なT&M技術とソリューション全体を深く理解しています。私たちは、お客様のソリューションのプロトタイピングと工業化を引き受けます。
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  • テストヘッドハウジング

  test head housing for optical inspection

  お客様の仕様に合わせたデザイン テストヘッドハウジングは、標準的な19インチインサートを取り付け、DUTボードに接続することができます。DUTボードは必要に応じてカスタマイズできます。
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  • テストヘッドハウジング

  test head housing for 19” inserts

  お客様の仕様に合わせたデザイン テストヘッドハウジングは、標準的な19インチインサートを取り付け、DUTボードに接続することができます。DUTボードは必要に応じてカスタマイズできます。テストヘッドハウジングにはボードロック機構が装備されており、DUTボードの交換が簡単かつ迅速に行えます。
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  • テストヘッドハウジング

  mini housing

  限られた枚数の計器カード用ハウジング 卓上やハンドテスト、デバッグに使用可能 DUTボードとソケットへのアクセスが容易