カテゴリー:テストシステム
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新しい部分放電試験システムTTSは、VDE 0884、IEC 60747-5-5、UL1 577に準拠したルーチン試験における半導体(オプトカプラ、デジタルアイソレータ)の高電圧(HI-Pot)および部分放電試験用に特別に開発されました。
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TPP型部分放電試験システムは、電気部品の非破壊絶縁・品質試験(VDE 0110-1、EN 50178、IEC 60270、IEC 60060など)に使用されます。
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MPS部分放電試験セットとPD-メーターはIEC60270とIEC60060に準拠しています。
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MPS Mess-& Prüfsysteme GmbHは、高電圧および部分放電測定用の測定装置および試験システムの開発における20年以上の経験を振り返ります。
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32チャンネル波形キャプチャ/デジタイザ
AGND独立の差動入力
最大100Mspsのプログラム可能なサンプル・レート
最大14ビットの分解能
チャネルごとに独立したレンジ
最大+7.5Vおよび75Vの2入力レンジ
1GByteキャプチャー共有メモリー
デジタル・トリガー(各チャンネル
ハードウェア同期/トリガー(LYNX毎)
最大192チャンネル/VIPER
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VIPERはあらゆるATEに対応するユニバーサルな装置拡張機能です。
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Test Inspireは、高密度PPMU、DPS、AWG、デジタイザの設計を専門としています。当社は、利用可能なT&M技術とソリューション全体を深く理解しています。私たちは、お客様のソリューションのプロトタイピングと工業化を引き受けます。
取り扱い製品
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接触技術のAlphaファミリーストレート・スルー・コンタクト・テクノロジーによるカンチレバー・スタイ…
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Test Inspireは、高密度PPMU、DPS、AWG、デジタイザの設計を専門としています。当社…
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32チャンネル波形キャプチャ/デジタイザAGND独立の差動入力最大100Mspsのプログラム可能なサ…
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