PM52-DT DBC Substrate Test Handler

PM52-DTは、あらゆるタイプのDBC基板に対応する完全なテストソリューションを提供します。

PM52-DTは、高電圧、電流、電力テストを実行する一方で、DBCを極端な温度環境下に置くことで、その信頼性と性能をテストし、DBCが厳しい要件に適合していることを確認します。

入出力オプション	スロットマガジン
UPH	最大600（サイクルタイム：6秒）
試験能力	高電圧/パワー試験最大電圧：2000V、最大電流：150A、>50アンペアパルス（100ms）周囲温度/高温試験 25℃～175℃の範囲
温度制御と機能	温度範囲 25°C～175°C 温度上昇時間約15分（室温～175℃の場合）温度精度 +/-2°Cテストサイトにて +/-3°C ソークチャンバーにてソーク時間 >90s エンドユーザー要件に基づく

PM38 Die Sorter PM38は、半導体、光センサー、集積回路向けに、ウェハ入力、電気機能テスト、刺激テスト、6面ビジョン検査、ソーティング、テープ＆リールなどの包括的な機能を備えた完全なターンキーソリューションを提供します。
Mason Pick & Place Test Handler Masonは高速ピック＆プレース・ハンドラーで、大量のマルチサイトICおよびイメージセンサー試験用に設計されています。
PM63 Ambient/ Hot Test & Vision Handler ディスクリートおよびICテスト用に設計された常温および高温テスト・ハンドラです。
PM31-T/PM35-T/PM38-T Turret Test & Vision Handler ディスクリートおよびICテスト用に設計された高速タレットテスト＆ビジョンハンドラです。ビジョン検査、電気機能検査に加え、レーザマーキング、ソーティング、デテーピング、テーピングなどのオプション機能を搭載しています。