Test Inspireは、半導体およびエレクトロニクス市場向けに、総所有コスト（TCO）と市場投入までの時間（Time to Market）を削減するテスト・ソリューションの新しい設計方法を提供します。
Test Inspireのコア・アーキテクチャであるVIPERは、ラボから大量生産のATEまで、あらゆるテスト環境においてシームレスなインターフェイス、ハードウェアおよびソフトウェアの統合を可能にします。
LYNX Spike Detector は、VIPERに組み込まれたNIST基準校正とチェッカー技術を活用し、ダウンタイムを削減し、精度を向上させます。