Mason Pick & Place Test Handler

Masonは高速ピック&プレース・ハンドラーで、大量のマルチサイトICおよびイメージセンサー試験用に設計されています。実際の環境条件をシミュレートし、25℃~175℃の周囲温度と高温環境下でDUTの性能と信頼性をテストします。また、シングル、デュアル、クワッド、オクタのテストサイトをサポートし、幅広いパッケージのテストが可能です。

  • 最大16テストサイト
  • アクティブ熱制御
  • テストヘッドへのダイレクト・ドッキング
  • 幅広いパッケージのテストが可能
  • 周囲温度/高温試験(25℃~175)

製品仕様

入出力オプション JEDECトレイ
パッケージの選択 QFP, BGA, QFN, MLF, TSSOP, SOIC, SIP, ODFN, OLGA
スプリントUPH 最大9,000(3x3mmデバイス、4xピックアップアーム使用時)
最大13,500(16倍ピックアップ・アーム付き3x3mmデバイス基準)
テスト能力 電気機能テスト
CMOSイメージ・センサ・テスト
周囲温度/高温テスト(25℃~175℃の範囲)
テストサイト 最大16サイト
テスト接触方式 パンチタイプ
テスト・マウント ダイレクト・ドッキング

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