WLBI-22 Wafer-Level Power Device Burn-in Test Handler

パワーデバイス用に設計された最新のウェーハレベルバーンインテストシステムです。この革新的なテスターは、2ウェハ並列テスト、720ダイ並列テストに対応します。独立したドライバ・チャンネルにより、電圧/電流の同時測定と温度モニタリングが可能です。窒素やアーク抑制ガスなどの不活性ガスを封入するシールチャンバーが設計されており、過熱することなくテスターを動作可能な温度状態に保ちながら、アークや酸化からDUTを保護します。

  • 全自動ハンドラーに内蔵
  • テストチャンバー内蔵のオールインワンソリューション
  • 高レベルのユーザー定義バーンインプロファイル（連続またはパルスモード）
  • 窒素ガス冷却システムとの統合
  • 基板タイルの容易なロード＆アンロード
  • プログラム可能な温度プロファイル

製品仕様

入出力オプション ウエハ
チャンネル数 最大720ユニット
バーンイン時間 プログラム可能
電気パラメータ測定 電流ソース・レンジ

  • 2uA, 500uA, 5mA

電流測定公差：

  • 1%の精度。各電流レンジに対して5nA、0.5uA、1uA

電圧源範囲：

  • 高電圧源 0~3KV
  • 低電圧源: +/-50V

低電圧源精度:

  • 高電圧: ±1%
  • 低電圧: 20mV または0.1%
プログラム可能な温度制御 温度測定制御：

  • 周囲温度～175°C

温度設定範囲

  • 175℃まで

温度設定分解能:

  • 0.1°C

動作温度:

  • 175℃まで

動作湿度:

  • <65% RH @ 23°C (周囲温度)

関連記事

トップページに戻る

パワーモジュール

  • Module-Level Power Device Burn-in Test Handlerパワーデバイス用に設計された最新のモジュールレベルバーンイン試験システムです。
  • Trooper-BI4 Wafer-Level Power Device Burn-in & Test HandlerTrooper-BI4は、炭化珪素ウェハの信頼性・バーンイン試験において、ウェハレベルで優れた性能を発揮する全自動バーンインテストハンドラーです。
  • Trooper-BI Wafer-Level Power Device Burn-in & Test HandlerTrooper-BIは、ウェーハレベルの炭化ケイ素（SiC）パワーデバイス用に特別に設計された高性能バーンインテストハンドラーです。
  • PM52-T Power Module Test Handlerインテリジェントパワーモジュール(IPM)、パワーインテグレーテッドモジュール(PIM)、オートメーテッドパワーモジュール(APM)、スマートパワーモジュール(SPM)の大電流・大電力テストを行うために設計されたリニアピックアンドプレイスコンセプトのテストハンドラです。

半導体テスト製品

ウェーブクレスト株式会社が運営する半導体テスト製品特設サイトです

Spike Detector

ログインするとTest InspireのSpike Detectorのデモを こちらから ご覧頂けます

ページ上部へ戻る