ウェハーテスト

• Cobra100μm までのピッチスケーラビリティ 最適な平面性 複数のスペースシフトオプション 多ピン・多ポイント：3000ピン以上 Low_K および CUP 基板用の低圧プロービング 大電流ソリューション：>1.0A
• WST良好な温度特性（-40℃～125） 接触力が低く、CUPパッドのガスケット設計にリスクがないため、テスト寿命が延びます。 シンプルな設計と簡単なチップ交換 交換可能なテストチップ
• MEMS電流CCC：最大800mA ピッチ間隔：最小60μm ピン数：最大20,000以上 最適なコプラナリティ