VIPER 次世代テスト＆計測ソリューション&Spike Detector

Test Inspireは、ポータビリティと使いやすさの必要性から着想を得た、自動化、モジュール化、テストセル計装に焦点を当てたテスト効率化ソリューション・プロバイダーです。テスト・インスパイアのチームは、半導体ATEにおいて30年以上の経験を持っています。当社の設計アーキテクトは、お客様のニーズに焦点を当てたオーダーメードのソリューションを作成します。テスト・インスパイアのソリューションは、テスト・ベンチ、ATE、バーンイン、システム・レベル・テストにシームレスに統合され、テスト能力と生産性を向上させ、最適な総合装置効率を達成します。テスト・インスパイアの本社はオランダにあり、戦略的パートナーシップを活用して、納入されたソリューションの販売と現地サポートを行っています。

Test Inspireは、高密度PPMU、DPS、AWG、デジタイザの設計を専門としています。Test Inspire社は、利用可能なT&M技術とソリューション全体を深く理解しています。お客様のソリューションのプロトタイピングと工業化を引き受けます。
VIPERの多彩で階層的なコアテクノロジーは、新しい計測器設計の開発・検証時間を短縮します。
キャラクタリゼーション・ラボでは、強力で高度に統合されたスケーラブルなVIPERが、複雑なPMIcやSOICの高密度測定ニーズに対応し、高い生産性、省フットプリント、低所有コストを実現します。
大量生産では、モノのインターネットIoTの波に触発されたTest Inspire VIPERベースのソリューションは、最適なスループットを達成するために、あらゆるテスト機器からリモートで同期させ、トリガーすることができます。
テスト・エンジニアは、Test Inspireテクノロジーを使用することで、テスト・セル構成の制約を超えた最も効果的なテスト・ソリューションを設計することができ、最小のテスト・コスト（CoT）で1時間あたりのテスト・ユニット（UPH）を向上させることができます。

VIPER Test Inspireのコアテクノロジーは、AdvancedTCA®のAXIe、PXIe（Peripheral Component Interconnect Express）、LXI（LAN eXtensions for Instrumentation）などの確立されたテスト＆計測（T&M）オープン規格を活用しています。
VIPERは、特性評価テストベンチや量産テストセル向けの革新的なテストソリューションとシステム統合を可能にします。
VIPERテクノロジーは、柔軟性とカスタマイズ性、そして標準化への対応です。
SWツール、キャリブレーション、診断はVIPERに組み込まれており、どのテストサブシステムからも完全に独立しています。
VIPERポータブル・ソリューションは、異なるテスト・セットアップ間で共有でき、リリース済みのアプリケーションとの後方互換性もあります。