ラバーテストソケット

  • 用途：FT/SLT/エージング/メモリ試験など
  • ピッチ範囲：350μm～800μm
  • 寿命：100,000T/D以上
  • 接触抵抗：100mΩ以下
  • 接触力：10～40g/p
  • 最大過負荷：250μm以上
  • 超短接触距離、接続経路のインダクタンスを大幅に低減 <0.2nH
  • 様々な高周波アプリケーションに最適、ミリ波やレーダー関連に対応可能
  • 交換が容易

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半導体テスト製品

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Spike Detector

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