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VIPER 次世代テスト&計測ソリューション&Spike Detector
Test Inspireは、高密度PPMU、DPS、AWG、デジタイザの設計を専門としています。当社は、利用可能なT&M技術とソリューション全体を深く理解しています。私たちは、お客様のソリューションのプロトタイピングと工業化を引き受けます。 -
Gubo OneData
1.15年以上の研究開発テストデータ管理 2.データの可視化、データ分析 3.自動データレポート作成 4.自動データ分析、AIデータマイニング -
Gubo OneTest
1.テスト機器の抽象化、100以上の主流機器の自動化をサポート 2.標準テスト手法の組み込み(テストIP) 3.完全に自動化されたPVTテストの実装 4.標準テストレポートの自動生成 -
Gubo Spec Manager
Lone Wave Spec managerは、半導体業界向けにカスタマイズされたチップ製品仕様トレーサビリティマトリックス(仕様準拠トレーサビリティマトリックス)アプリケーションソフトウェアシステムです。 -
ALPHA
接触技術のAlphaファミリー ストレート・スルー・コンタクト・テクノロジーによるカンチレバー・スタイル(ICパッケージとロードボードの端が垂直に配置される) フルケルビン、専用/選択ケルビン、および非ケルビン構成で入手可能 オプションのTCCにより、試験中、DUTのセットポイントから±2⁰℃を維持可能 -
GAMMA
接触技術GAMMAファミリー X方向オフセットコンタクト技術によるカンチレバースタイル(ICパッケージとロードボードの端が垂直に整列しない) フルケルビン、専用/選択ケルビン、および非ケルビン構成で利用可能 オプションのTCCにより、試験中、DUTのセットポイントから±2⁰℃を維持可能 -
THOR
接触技術のTHORファミリー ストレート・スルー・コンタクト技術によるカンチレバー・スタイル(ICパッケージとロードボードの端が垂直に配置されている) 複数の電気的長さが利用可能 フルケルビンおよび非ケルビン構成で利用可能 -
HERCULES
HERCULESの接触技術ファミリー X方向オフセット・コンタクト技術によるカンチレバー・スタイル(ICパッケージとロード・ボードの端が垂直に整列していない) フルケルビン、専用/選択ケルビン、および非ケルビン構成で利用可能 オプションのTCCにより、試験中、DUTのセットポイントから±2⁰℃を維持可能 -
OSTRICON
OSTRICON OSTRICONファミリー・コンタクティング・テクノロジー X方向オフセットコンタクト技術によるカンチレバースタイル(ICパッケージとロードボードの端が垂直に整列していません) オプションのTCCにより、テスト中にDUTのセットポイントから±2℃を維持可能 -
ZIGMA
ジーマの接触技術ファミリー 0.50、1.00、2.00mmの電気的長さをご用意 水平オフセット付きデュアル・エラストマー・バイアス・リジッド・スタイル(ICパッケージおよびロードボード端部)