過去の記事一覧

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  • SIMULATE TEST SYSTEMS

  Test Condition Verification

  DUTの条件を知ることは、コンポーネントを選択する上で非常に重要です。条件の詳細がツールに入力されると、ボード上のコンポーネントがこれらの要件をサポートすることを検証できます。
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  • SIMULATE TEST SYSTEMS

  DC Operating Conditions

  各ネットのDC電圧を簡単に表示し、ボード上のコンポーネントが意図した電圧を受けていることを確認できます。
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  • ディスクリート＆IC

  PM31-T/PM35-T/PM38-T Turret Test & Vision Handler

  ディスクリートおよびICテスト用に設計された高速タレットテスト＆ビジョンハンドラです。ビジョン検査、電気機能検査に加え、レーザマーキング、ソーティング、デテーピング、テーピングなどのオプション機能を搭載しています。
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  • SIMULATE TEST SYSTEMS

  PDF Viewer

  統合されたPDFビューアにより、ツールによってフラグが立てられた問題のあるコンポーネントを簡単に見つけることができます。
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  • ミニハンドラー, パッケージ・テスト

  Mini Handler

  自動テスト 自動テストとトレイ投入 モードA：Bin1/NG材料仕分けトレイ モードB：トレイイン＆トレイマッピング チップ予熱（オプション） QRコード読み取り（オプション） 長時間の無人検査が可能なマルチトレイ設計。 幅広い製品に対応する交換可能なテストヘッド。
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  • エラストマーテストソケット

  ラバーテストソケット

  用途：FT/SLT/エージング/メモリ試験など ピッチ範囲：350μm～800μm 寿命：100,000T/D以上 接触抵抗：100mΩ以下 接触力：10～40g/p 最大過負荷：250μm以上 超短接触距離、接続経路のインダクタンスを大幅に低減 <0.2nH 様々な高周波アプリケーションに最適、ミリ波やレーダー関連に対応可能 交換が容易
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  • プリント基板

  ATEロードボード

  自動試験機：93K、J750HD、Chroma、ETS88、Accotest、T800など。 レイヤー数：50以上 周波数：10Ghz以上 パッド間隔：200um
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  • プリント基板

  プローブカード基板

  自動試験機：93k、UltraFlex、J750HD、Chroma、ETS88、Accotestなど。 高ピン数 高密度 80μmの低ピッチ
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  • プリント基板

  エージングプレート

  温度：摂氏150度まで 寿命：5000時間以上/最大5ロット
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  • ウェハーテスト

  Cobra

  100μm までのピッチスケーラビリティ 最適な平面性 複数のスペースシフトオプション 多ピン・多ポイント：3000ピン以上 Low_K および CUP 基板用の低圧プロービング 大電流ソリューション：>1.0A