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近磁界プローブセットXF1
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- 投稿日 2018年1月17日
- 最終更新日時 2018年1月22日
近磁界プローブセットXF1
従来型の電波暗室を利用したEMC試験では多額の費用と時間を要することから、設計段階から部品またはPCBレベルでの評価が益々重要になっています。
近磁界プローブ XF1セット（周波数範囲：30MHz～6GHz）は、EMI用にマッチングされており、チップレベルでの微小ノイズに向く高解像度が特徴です。
Langer社の近磁界プローブは、PCB,IC用途など測定製品の回路に合わせて、約30種類から選択可能です。
磁界、電界、分解能、また、EMCスキャナーの利用など想定できる用途に合わせています。世界中のスキャナーメーカーへも供給しており、その汎用性は高く信頼性に優れています。
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